Titelaufnahme

    Titel
    Framework for Analyzing Testing Efficiency
    VerfasserFey, Robert
    Enthalten in
    ATZelectronics worldwide, Jg. 21 (2026) H. 7-8, S. 28-33
    ErschienenWiesbaden : Springer Fachmedien Wiesbaden, 2026
    URNurn:nbn:de:hebis:43:epflicht-87612 
    DOI10.1007/s38314-026-2134-2 
    Zugriffsbeschränkung
     Nur an Rechnern der Bibliothek abrufbar
    Links
    Nachweis
     Hessisches Bibliotheks- und Informationssystem (hebis)
    Klassifikation
    Lizenz-/Rechtehinweis
    Urheberrechtsschutz 1.0